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510ABA106M250BAGR Silicon芯科晶振 6G電信晶振 Si510差分振蕩器

尺寸5.0*3.2mm,頻率106.25MHZ


510ABA106M250BAGR Silicon芯科晶振 6G電信晶振 Si510差分振蕩器,尺寸5.0*3.2mm,頻率106.25MHZ,輸出邏輯LVPECL,電壓3.3V,頻率穩定性25ppm,XO時鐘振蕩器(標準),LV-PECL輸出晶振,有源差分晶振,差分晶體振蕩器,6GWIFI差分晶振,低電壓差分振蕩器,低抖動差分晶振,低耗能差分晶振,高性能差分晶振,儀器設備差分晶振,6G光模塊差分晶振,無線網絡差分振蕩器,網絡設備專用差分晶振,OSC差分晶振,有源差分晶振,貼片型差分振蕩器.

差分晶振產品具有低抖動低電壓的特點,主要應用范圍SONET/SDH/OTN網絡,千兆以太網,光纖通道/SAS/SATA,PCI Express總線,3G-SDI/HD-SDI/SDI,電信,交換機/路由器,FPGA/ASIC時鐘生成等領域.510ABA106M250BAGR Silicon芯科晶振 6G電信晶振 Si510差分振蕩器.


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510ABA106M250BAGR Silicon芯科晶振 6G電信晶振 Si510差分振蕩器,尺寸5.0*3.2mm,頻率106.25MHZ,輸出邏輯LVPECL,電壓3.3V,頻率穩定性25ppm,XO時鐘振蕩器(標準),LV-PECL輸出晶振,有源差分晶振,差分晶體振蕩器,6GWIFI差分晶振,低電壓差分振蕩器,低抖動差分晶振,低耗能差分晶振,高性能差分晶振,儀器設備差分晶振,6G光模塊差分晶振,無線網絡差分振蕩器,網絡設備專用差分晶振,OSC差分晶振,有源差分晶振,貼片型差分振蕩器.

差分晶振產品具有低抖動低電壓的特點,主要應用范圍SONET/SDH/OTN網絡,千兆以太網,光纖通道/SAS/SATA,PCI Express總線,3G-SDI/HD-SDI/SDI,電信,交換機/路由器,FPGA/ASIC時鐘生成等領域.510ABA106M250BAGR Silicon芯科晶振 6G電信晶振 Si510差分振蕩器.

耐振低頻進口諧振器,大型7050mm貼片晶體,CX5晶振

510ABA106M250BAGR Silicon芯科晶振 6G電信晶振 Si510差分振蕩器      參數表

Parameter Symbol Test Condition Min Typ Max Unit
Supply Voltage V DD 3.3 V option 2.97 3.3 3.63 V
2.5 V option 2.25 2.5 2.75 V
1.8 V option 1.71 1.8 1.89 V
Supply Current IDD CMOS, 100 MHz,
single-ended
21 26 mA
LVDS
(output enabled)
19 23 mA
LVPECL
(output enabled)
39 43 mA
HCSL
(output enabled)
41 44 mA
Tristate
(output disabled)
18 mA
OE "1" Setting VIH See Note 0.80 x V DD V
OE "0" Setting VIL See Note 0.20 x V DD V
OE Internal Pull-Up/Pull-
Down Resistor*
RI 45
Operating Temperature TA –40 85 oC
Parameter Symbol Test Condition Min Typ Max Unit
Nominal Frequency FO CMOS, Dual CMOS 0.1 212.5 MHz
FO LVDS/LVPECL/HCSL 0.1 250 MHz
Total Stability* Frequency Stability Grade C –30 +30 ppm
Frequency Stability Grade B –50 +50 ppm
Frequency Stability Grade A –100 +100 ppm
Temperature Stability Frequency Stability Grade C –20 +20 ppm
Frequency Stability Grade B –25 +25 ppm
Frequency Stability Grade A –50 +50 ppm
Startup Time TSU Minimum V DD until output
frequency (FO) within specification
10 ms
Disable Time TD FO> 10 MHz 5 µs
FO< 10 MHz 40 µs
Enable Time TE FO> 10 MHz 20 µs
FO< 10 MHz 60 µs
Parameter Symbol Test Condition Min Typ Max Unit
CMOS Output Logic
High
V OH 0.85 x V DD V
CMOS Output Logic
Low
VOL 0.15 x V DD V
CMOS Output Logic
High Drive
I OH 3.3 V –8 mA
2.5 V –6 mA
1.8 V –4 mA
CMOS Output Logic
Low Drive
I OL 3.3 V 8 mA
2.5 V 6 mA
1.8 V 4 mA
CMOS Output Rise/Fall
Time
(20 to 80% V DD)
TR/T F 0.1 to 212.5 MHz,
CL = 15 pF
0.45 0.8 1.2 ns
0.1 to 212.5 MHz,
CL = no load
0.3 0.6 0.9 ns
LVPECL Output
Rise/Fall Time
(20 to 80% VDD)
TR/T F 100 565 ps
HCSL Output Rise/Fall
Time (20 to 80% VDD)
TR/T F 100 470 ps
LVDS Output Rise/Fall
Time (20 to 80% VDD)
TR/T F 350 800 ps
LVPECL Output
Common Mode
VOC 50 Ω to V DD – 2 V,
single-ended
V DD –
1.4 V
V
LVPECL Output Swing VO 50 Ω to V DD – 2 V,
single-ended
0.55 0.8 0.90 VPPSE
LVDS Output Common
Mode
VOC 100 Ω line-line
V DD= 3.3/2.5 V
1.13 1.23 1.33 V
100 Ω line-line, V DD= 1.8 V 0.83 0.92 1.00 V
LVDS Output Swing VO Single-ended, 100 Ω differential
termination
0.25 0.35 0.45 VPPSE
HCSL Output Common
Mode
VOC 50 Ω to ground 0.35 0.38 0.42 V
HCSL Output Swing VO Single-ended 0.58 0.73 0.85 VPPSE
Duty Cycle DC All formats 48 50 52 %
耐振低頻進口諧振器,大型7050mm貼片晶體,CX5晶振

510ABA106M250BAGR Silicon芯科晶振 6G電信晶振 Si510差分振蕩器      尺寸圖Si510 Si511

SMD振蕩器產品特性:

支持以下任何頻率

100kHz至250MHz

DLD 片內LDO電源調節器

電源噪聲濾波 3.3、2.5或1.8 V工作電壓

差異(LVPECL,LVDS, HCSL)或CMOS輸出選項 可選集成1:2 CMOS

扇出緩沖器

OE上的不良抑制和通電

行業標準5 x 7、3.2 x 5、 和2.5 x 3.2毫米封裝

無鉛,符合RoHS標準

–40至85攝氏度操作Si510 Si511 1

Si510 Si511 2

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510ABA125M000BAGR Silicon Labs Si510 125MHz 3.3V ±25ppm
510BBA100M000BAGR Silicon Labs Si510 100MHz 3.3V ±25ppm
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510FBA100M000BAGR Silicon Labs Si510 100MHz 2.5V ±25ppm
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510ABA74M2500BAGR Silicon Labs Si510 74.25MHz 3.3V ±25ppm
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510BBA74M2500BAGR Silicon Labs Si510 74.25MHz 3.3V ±25ppm
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耐振低頻進口諧振器,大型7050mm貼片晶體,CX5晶振

聯系人:李玉龍

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